“Arakapenezko -mikroskopia elektronikoa” materialak karakterizatzeko teknikaren oinarri teorikoak ezagutzea, bai behaketa mikroskopikoen ikuspegitik, bai X izpien bidezko mikroanalisiaren eta atzerakako elektroien difrakzioaren ikuspegitik (EBSD).

Funtzionamendua ezagutzea eta Arakapenezko -mikroskopio elektroniko batekin lehen kontaktua izatea

Nori zuzendua

Doktoregaiak
Laborategiko teknikariak
Ikertzaileak

Aldez aurretik eskatzen diren ezagutzak:

Fisika (1. maila)
Materialen zientzia

Programa

Sarrera (0,5 h)

Arakapenezko-mikroskopia elektronikoa (24,5)

1. Teoria (17 h) (taldeko erakustaldiak FE-SEM: 7,5 h)

1.1. Sarrera (0,5 h) (taldea 0,25 h)
1.2. Elektroien eta materiaren arteko elkarrekintzen fisika (4 h)
1.3.- Optika elektronikoa (3,75 h) (ekipoa 0,25 h)
1.4. Irudiak sortzea eta interpretatzea (2,75 ordu) (1 orduko taldea)
1.5. Lan egiteko moduak eta detektagailuak (FE-SEM Nova NanoSEM 450) (3,5 h) (ekipoa 4,33 h)
1.6. X izpien mikroanalisia. Analisi kualitatiboa (1,25 h) (ekipoa 0,75 h)
1.7. EBSD analisia. Oinarrizko kontzeptuak (1,25 h) (taldea 0,92 h)