Conocer los fundamentos teóricos de la técnica de caracterización de materiales “Microscopía electrónica de barrido” tanto desde el punto de vista de observaciones microscópicas como de microanálisis por rayos X y de difracción de electrones retrodispersados (EBSD).

Conocer el funcionamiento y tener un primer contacto con un microscopio electrónico de barrido

Dirigido a

Doctorandos
Técnicos de laboratorio
Personal investigador

Conocimientos previos requeridos:

Física (1º Grado)
Ciencia de los materiales

Programa

25 h (teoría+demostraciones en equipo)

PROGRAMA

Introducción (0,5 h)

Microscopía electrónica de barrido (24,5)

1. Teoría (17 h) (demostraciones en equipo FE-SEM: 7,5 h)

1.1. Introducción (0,5 h) (equipo 0,25 h)
1.2. Física de las interacciones entre electrones y materia (4 h)
1.3. Óptica electrónica (3,75 h) (equipo 0,25 h)
1.4. Formación de imágenes e interpretación (2,75 h) (equipo 1 h)
1.5. Modos de trabajo y detectores (FE-SEM Nova NanoSEM 450) (3,5 h) (equipo 4,33 h)
1.6. Microanálisis de RX. Análisis cualitativo (1,25 h) (equipo 0,75 h)
1.7. Análisis EBSD. Conceptos básicos (1,25 h) (Equipo 0,92 h)