Ikastaroa Arakapenezko Mikroskopia Elektronikoa

Gaia
Ingeniaritza Mekanikoa eta Fabrikazio Prozesuak
ECTS/orduak
25 ordu
Tokia
Arrasate-Mondragón
Hizkuntzak
Gaztelania
Modalitatea
Aurrez aurrekoa
Prezioa
750 € Finantziazio iturriak
Ikastaro hau jada ez dugu eskaintzen

Helburuak

  • Conocer los fundamentos teóricos de la técnica de caracterización de materiales “Microscopía electrónica de barrido” tanto desde el punto de vista de observaciones microscópicas como de microanálisis por rayos X y de difracción de electrones retrodispersados (EBSD).

  • Conocer el funcionamiento y tener un primer contacto con un microscopio electrónico de barrido

  • Capacitarse para poder usar el microscopio electrónico de barrido FE-SEM NovaNanoSEM 450 (solo para futuros usuarios internos de MGEP)

Nori zuzendua

  • Doctorandos
  • Técnicos de laboratorio
  • Personal investigador

Conocimientos previos requeridos:
  • Física (1º Grado)
  • Ciencia de los materiales

Egitaraua

25 h (teoría+demostraciones en equipo), 16 h (uso de equipo: solo para futuros usuarios de MGEP)

PROGRAMA

Introducción (0,5 h)

Microscopía electrónica de barrido (24,5+16 h)


1. Teoría (17 h) (demostraciones en equipo FE-SEM: 7,5 h)

1.1. Introducción (0,5 h) (equipo 0,25 h)
1.2. Física de las interacciones entre electrones y materia (4 h)
1.3. Óptica electrónica (3,75 h) (equipo 0,25 h)
1.4. Formación de imágenes e interpretación (2,75 h) (equipo 1 h)
1.5. Modos de trabajo y detectores (FE-SEM Nova NanoSEM 450) (3,5 h) (equipo 4,33 h)
1.6. Microanálisis de RX. Análisis cualitativo (1,25 h) (equipo 0,75 h)
1.7. Análisis EBSD. Conceptos básicos (1,25 h) (Equipo 0,92 h)

2. Uso de equipo FE-SEM NovaNanoSEM 450 (trabajo en equipo FE-SEM: 16 h, grupos de 2 personas)

2.1. Sesión 1: Descripción general (4 h)
2.2. Sesión 2: Alto vacío (4 h)
2.3. Sesión 3: Microanálisis de RX (4 h)
2.4. Sesión 4: Sistema EBSD ó Bajo vacío (4 h)


3. Bibliografía

Irakasleak

Tato, Wilson