El catedrático Christopher Evans ha visitado la Facultad de Ingeniería de Mondragon Unibertsitatea

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El catedrático Christopher Evans ha visitado la Facultad de Ingeniería de Mondragon Unibertsitatea

VISITA

El catedrático Christopher Evans ha visitado la Facultad de Ingeniería de Mondragon Unibertsitatea

La visita tenía por objeto explorar la posibilidad de una futura cooperación con el Grupo de Investigación de Mecanizado de Alto Rendimiento de Mondragon Unibertsitatea en el campo del micromecanizado, de cara al intercambio de estudiantes de doctorado y la colaboración en eventuales proyectos.

10·05·2019

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El catedrático Christopher Evans ostenta el título de «Norvin K. Dickerson Jr Distinguished Professor» de Ingeniería de Precisión, además de ser director del Centro de Metrología de Precisión. Durante su visita, ha tenido la oportunidad de conocer la Corporación Mondragon y el laboratorio de mecanizado de Mondragon Unibertsitatea.
 
Además, ha impartido dos conferencias a los profesores, estudiantes de doctorado y alumnos de grado del área de mecanizado de Mondragon Unibertsitatea. 
 
  • Universidad de Carolina del Norte (UNC) en Charlotte: Perspectiva y visión general de la I+D en fabricación y metrología. En esta conferencia se ha presentado la UNC Charlotte como uno de los 17 campus que conforman el sistema de la Universidad de Carolina del Norte, destacando sus características básicas y dando a conocer sus programas multidisciplinarios en metrología y óptica de forma libre. A continuación se ha ofrecido un panorama general sobre fabricación y metrología a escalas desde varias decenas de metros a submicrométrica. También se han abordado diversas aplicaciones, desde grandes engranajes utilizados en el sector de la energía eólica a metrología para procesos de fusión de lecho de polvo por láser.
  • Mecanizado y metrología de ultraprecisión para óptica de próxima generación. El uso de herramientas de diamante monocristalino y máquinas-herramienta de 5 ejes de ultraprecisión facilita la fabricación de componentes complejos para sistemas de imágenes multiespectrales de alto rendimiento. La gama de materiales es limitada, planteando la cuestión de si pueden producirse superficies ópticas de calidad similar mediante rectificado en máquinas-herramienta análogas. Además, estas nuevas formas ópticas suponen un reto para los métodos tradicionales empleados en metrología óptica.
Tras las conferencias y como punto final se debatió con los profesores y alumnos acerca de posibles iniciativas de cooperación a través de proyectos, intercambios, etc.