Berriak

Atzera

Christopher Evans katedradunak Mondragon Unibertsitateko Ingeniaritza Fakultatea bisitatu du

BISITA

Christopher Evans katedradunak Mondragon Unibertsitateko Ingeniaritza Fakultatea bisitatu du

Bisitaren xedea hau izan da: Mondragon Unibertsitateko Errendimendu Handiko Mekanizazio ikerketa-taldearekin, mikromekanizazio-arloan, geroan lankidetza izateko aukera aztertzea, doktorego-ikasle trukea egiteko eta aldi baterako proiektuetan elkarlanean aritzeko.

2019·05·10

$titulo.getData()


Christopher Evans katedradunak Doitasun Ingeniaritzako «Norvin K. Dickerson Jr Distinguished Professor» titulua du, eta Doitasuneko Metrologia Zentroko zuzendaria da. Bisitaldi horretan, Mondragon Korporazioa eta Mondragon Unibertsitateko mekanizazio-laborategia ezagutzeko aukera izan du.
 
Halaber, Mondragon Unibertsitateko mekanizazio-arloko graduko irakasle, doktorego-ikasle eta ikasleei bi mintzaldi eman dizkie.  
 
  • Ipar Karolinako Charlotte Unibertsitatea (UNC): Fabrikazio eta metrologiako I+Gren ikuspegia eta ikuskera orokorra.Mintzaldi honetan, Ipar Karolinako Unibertsitatearen sistema osatzen duten 17 campusetako bat bezala aurkeztu da UNC Charlotte, eta horren oinarrizko ezaugarriak nabarmendu dira eta metrologia eta forma askeko optikako jakintza-alor anitzeko programak ezagutarazi. Ondoren, dozenaka metrotako eskalatik eskala submikrometrikora bitarteko fabrikazioari eta metrologiari buruzko egoera orokorra azaldu da.Halaber, hainbat aplikazio landu dira, energia eolikoaren sektorean erabiltzen diren engranaje handietatik hasi eta laser bidezko hauts-ohe fusio-prozesuetarako metrologia barne.
  • Mekanizazioa eta ultradoitasuneko metrologia hurrengo belaunaldiko optikarako. Diamante monokristalinozko tresnak eta ultradoitasuneko 5 ardatzeko makina-erremintak erabiltzeak, errendimendu handiko espektro anitzeko irudien sistemetarako osagai konplexuak fabrikatzea errazten du. Material-aukera mugatua da, eta antzeko makina-erremintetan artezketa bidez antzeko kalitatezko gainazal optikoak ekoitz ote litezkeen planteatu da.Gainera, forma optiko berri horiek erronka bat dira metrologia optikoan erabilitako ohiko metodoetarako.
Mintzaldien ondoren, azken eztabaidagai gisa, irakasleak eta ikasleak elkarlanean aritzeko ekimen posibleez aritu ziren, hala nola, proiektuez, ikasle-trukeez…